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山金 Bettersize丹东百特 纳米颗粒分析仪
简要描述:

山金 Bettersize丹东百特 纳米颗粒分析仪
Bettersizer S3 Plus 将激光衍射和动态图像分析技术集成于一体,可测量 0.01 μm 至 3500 μm 范围内的颗粒尺寸和形状。它对超细颗粒和超大颗粒均具有 的灵敏度,且分辨率 ,是开展*科学研究的科研人员的理想之选,堪称功能 的尺寸和形状分析仪。

  • 产品型号:BeNano 180 Zeta Max
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-10-15
  • 访  问  量:5

详细介绍

品牌Bettersize/百特产地类别国产
应用领域化工,能源,建材/家具,综合

山金 Bettersize丹东百特 纳米颗粒分析仪

山金 Bettersize丹东百特 纳米颗粒分析仪

# Bettersize 丹东百特仪器

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> **国产粒度分析仪器龙头(辽宁丹东本土品牌),专精特新小巨人企业**,品牌英文:Bettersize丹东百特仪...

## ✅ 主营产品(粉体 / 颗粒检测仪器)

1. **激光粒度分析仪**(主力机型 Bettersize2600 Plus,干湿两用,纳米~毫米粒径测试)

2. 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪(BeNano 系列,测纳米颗粒粒径、表面电荷)

3. 显微图像粒度粒形分析仪(看颗粒形貌)

4. 粉体综合特性测试仪、真密度仪、颗粒稳定性分析仪、光阻法颗粒计数器

5. 在线粒度监测系统(产线连续监测粉体)丹东百特仪...

## ✅ 目标客户行业(和你 THINKY 新基搅拌机高度重合!)

新能源电池材料、涂料、化工新材料、陶瓷、3D 打印金属粉、制药、非金属矿、化妆品、高校 / 材料检测实验室。

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> 逻辑:粉体配料搅拌(THINKY)→粒度检测(丹东百特),一套粉体研发 / 质控组合方案。



 1. 粒度测量——动态光散射(DLS)

动态光散射 (DLS),也称为光子相关光谱 (PCS) 或准弹性光散射 (QELS),是一种通过分析分散体系中粒子的布朗运动来确定粒子尺寸的技术。DLS 基于布朗运动原理,该原理将粒子尺寸与速度联系起来——较小的粒子扩散速度更快,而较大的粒子运动速度更慢。粒子的散射强度由雪崩光电二极管 (APD) 检测,然后转换为相关函数。利用该相关函数,可以应用数学算法来获得扩散系数 (D)。流体动力学直径 (D<sub> H</sub> ) 及其分布可以使用斯托克斯-爱因斯坦方程计算,该方程将扩散系数与粒子尺寸联系起来。

1.1 后向散射探测技术

该分析仪利用背散射光学技术,通过评估样品的尺寸、浓度和散射特性,自动识别最佳检测位置。这既确保了最高的测量精度,又具备评估各种不同特性样品所需的适应性。

特征

更宽的浓度范围:通过优化检测位置,可以在样品池边缘附近检测高浓度样品,有效减少多次光散射造成的误差。

灵敏度提高:与传统的 90° 光学元件相比,散射体积提高了 8-10 倍,灵敏度提高了约 10 倍。

扩大尺寸检测范围:通过最大限度地减少较大颗粒的多次光散射,该方法提高了测量精度。此外,显著增大的散射体积有助于减少大颗粒数量的波动,从而实现更可靠的分析。

更好的可重复性:减少粉尘污染物和分布不均的团聚体的影响,从而提高可重复性。

2. Zeta电位测量——电泳光散射(ELS)

在水溶液体系中,带电粒子被反离子包围,形成内斯特恩层和外剪切层。zeta电位是剪切层界面处的电势。zeta电位越高,表明悬浮体系越稳定,聚集程度越低。电泳光散射(ELS)通过散射光的多普勒频移来测量电泳迁移率,并可利用亨利方程计算样品的zeta电位。

胶体稳定性

稳定粒子系统

不稳定粒子系统

粒子间的高斥力

高zeta电位

絮凝、聚集、沉淀

zeta电位低或为零。

2.1 相位分析光散射 (PALS)

PALS 是一种比传统 ELS 更优良的技术,Bettersize 公司进一步开发了该技术来测量 zeta 电位。

特点和优势

对电泳迁移率低的样品进行精确测量。

适用于低介电常数的有机溶剂中的样品

对于高电导率样品,结果更为准确。

有效测量电荷接近等电点的粒子的zeta电位

3. 分子量测定——静态光散射(SLS)

静态光散射 (SLS) 是一种测量散射强度的技术,利用瑞利方程计算样品的重均分子量 (Mw) 和第二维里系数 (A2)。

其中c为样品浓度,θ 为检测角,R θ为瑞利比,用于表征角度θ处散射光与入射光强度比,M w为样品重均分子量,A 2为第二维里系数,K 为与 (dn/dc) 2相关的常数。

功能与优势

非侵入性技术

适用于溶解在液体中的颗粒

测量粒径小于 30 nm 的样品的分子量

提供第二维里系数 A₂ ,指示分子间相互作用。

德拜图

4. 动态光散射微流变学测量

动态光散射微流变学(DLS微流变学)是一种经济高效的技术,它利用动态光散射来测定流变性质。通过分析胶体示踪粒子的布朗运动,可以利用广义斯托克斯-爱因斯坦方程获得有关体系粘弹性性质的信息,例如粘弹性模量、复数粘度和蠕变柔量。

功能与优势

通过测量被研究材料中示踪粒子的热驱动运动来研究流变行为。

便于在单次测量中测量宽频率范围。

适用于稀释的、弱结构溶液

操作简便,1-2分钟即可快速见效。

提供-15°C至120°C宽温度范围内的流变学信息

对传统机械流变学的补充

5. DLS 流动模式测量

DLS流动模式能够对复杂的多分散体系进行高分辨率粒径分析。当与GPC/SEC或FFF等前端分离设备联用时,颗粒被分离成单分散组分,并按粒径顺序依次流经BeNano。每个组分的粒径被连续测量并累加,最终得到高分辨率粒径分布。

BeNano 可以获取 RI 或 UV 信号,与批量模式测量相比,它能够提供更精确的体积和数量分布,且不受算法的影响。

功能与优势

DLS分析仪与GPC/SEC、FFF等连接。

最多可接收来自折射率探测器、紫外线探测器或其他探测器的 3 个信号

27 μL 低容量流动池,以避免谱带展宽

尺寸分辨率最高可达 1.3:1

除强度外,还按数量和体积加权的尺寸分布

适用于蛋白质、聚合物等复杂、多分散体系。

6. 温度趋势测量

功能与优势

程序控制的温度趋势测量范围为-15°C至120°C

对于分析不同温度下的颗粒尺寸和zeta电位而言,这一点至关重要。

蛋白质制剂稳定性检测简便

通过高温模拟加速实时老化

7. 透射率测量

功能与优势

通过检测透过样品的光强度来快速测量透射率

最小样品体积要求为 3 μL

用于评估工业产品批次一致性的敏感指标

用于识别样品不稳定性的一种定量工具

8. 折射率测量

BeNano系列能够以 的精度测定液体的折射率(RI)。其 比色皿用于盛放液体样品,CMOS检测器则通过测量光线穿过液体后的偏转来计算折射率。

功能与优势

该 技术支持1.2至1.6的宽折射率范围。

仅需两个校准参考值,并采用适用于外推的线性校准方法。

无需示踪粒子或预先了解粘度

可用于测量折射率未知的分散剂的动态光散射(DLS)和电子光散射(ELS)特性

适用于有机溶剂和水性溶剂

9. 浓度测量

BeNano采用 LEDLS技术,测量每种颗粒群体的体积分数和每毫升颗粒数浓度(颗粒/mL)。入射光穿过样品到达光电二极管检测器,检测器记录透射光强度。通过与空白溶液的透射光强度进行比较,并结合动态光散射法测得的粒径分布数据,即可确定颗粒浓度。

功能与优势

可通过单角度检测实现快速测量

简化了样品制备过程,无需校准。

适用于筛选型测量

适用于水性和有机样品

10. 沉降粒径测量

BeNano系列产品采用沉降法测定颗粒尺寸。颗粒的沉降速率与其尺寸直接相关,较大的颗粒沉降速度更快。光电探测器监测透射光强度随时间的变化,从而能够测定尺寸达50微米的颗粒的尺寸和分布。

沉淀法示意图

功能与优势

尺寸测量范围扩展至 50 μm

适用于同时含有纳米颗粒和微米颗粒的样品,满足广泛分布样品的需求。

提供微米级颗粒的基于体积的粒径分布,与激光衍射结果一致。

对多个峰可实现高达 1.5 倍的尺寸分辨率

11. pH自动滴定测量

BAT-1 + 脱气装置可与 BeNano 系列无缝集成,用于自动酸碱滴定和等电点 (IEP) 测定。该系统可在测量过程中自动启用样品流动,确保高效、一致且不受操作人员影响的结果,以及精确的滴定精度。

可选的脱气装置用于去除滴定剂中溶解的气体。防止气泡产生可提高zeta电位测量的准确性。

功能与优势

在 pH 1 至 13 范围内进行精确的粒径和 zeta 电位分析

提高安全性,最大限度减少接触腐蚀性液体

自动化工作流程可减少培训需求和研究人员的工作量。

减少人工操作步骤可最大限度地降低人为错误。

每个测量周期最快只需 30 分钟即可完成。

智能滴定:根据初始pH值和目标pH值,软件可以自动选择所需的滴定剂。


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