全新 Bettersize丹东百特 激光粒度分析仪
Bettersizer S3 Plus 将激光衍射和动态图像分析技术集成于一体，可测量 0.01 μm 至 3500 μm 范围内的颗粒尺寸和形状。它对超细颗粒和超大颗粒均具有 的灵敏度，且分辨率 ，是开展*科学研究的科研人员的理想之选，堪称功能 的尺寸和形状分析仪。

全新 Bettersize丹东百特 激光粒度分析仪

全新 Bettersize丹东百特 激光粒度分析仪

特点和优势

• ●测量范围为0.01-3500μm（激光系统），2-3500μm（图像系统）

• ●将激光衍射和动态图像分析技术集成于一台仪器中，可同时获得尺寸和形状结果。

• ● 的DLOI（双透镜和斜入射）系统能够测量小至0.01微米的超细颗粒。

• ●双摄像头成像技术可实时显示颗粒图像，并可检测尺寸高达 3500 微米的超大颗粒。

• ●折射率测量可确定未知样品的折射率，并提高结果的可靠性

• ●符合 21 CFR Part 11、ISO 13320、USP<429>和 CE 标准

Bettersizer S3 Plus 粒度及形状分析仪概述

Bettersizer S3 Plus 是一款激光衍射粒度及形貌分析仪，配备两台高速 CMOS 相机（0.5 倍和 10 倍放大倍率），用于拍摄待测样品的图像。测量过程中，分散在目标介质中的颗粒被泵入两个样品池。在第一个样品池中，短波激光（532 nm）照射颗粒并发生散射。96个探测器可检测 0.02° 至 165° 角度范围内的光信号。CMOS 相机通过第二个样品池持续拍摄颗粒图像，从而提供2 至 3500 µm范围内的形貌信息。

1 DLOI（双透镜斜入射）系统：激光衍射

激光衍射技术仍然是各工业领域进行常规粒度分析的 方法。Bettersizer S3 Plus 采用获得 的 DLOI 系统，该系统基于傅里叶结构设计，可确保对 0.01 μm 及以下的超细颗粒进行精确测量。

特点和优势：

采用96个探测器，可在较大的角度范围（0.02° - 165°）内精确测量超细颗粒。

采用双透镜设计的 光学系统，具有 的分辨率。

单短波激光系统（532 nm）可提供波长一致的连续散射光谱。

固态光源无需任何稳定和预热时间

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