供货 SANKO三高 EX-731 荧光膜厚度计
SANKO三高一般指日本株式会社三光电子研究所，是一家专注于精密检测仪器研发与制造的专业厂商，旗下产品覆盖多个工业检测领域，在无损检测行业拥有较高的诚信度。

供货 SANKO三高 EX-731 荧光膜厚度计
供货 SANKO三高 EX-731 荧光膜厚度计

整机硬件基础参数

X 射线源：油浸微型微焦点钨靶 X 射线管，50kV 可调电流

探测器：正比计数器

工作台：200×200mm，X/Y 轴行程 200mm，工件最大放置高度 90mm

机身尺寸：740 (W)×530 (D)×660 (H) mm，整机重量≤15kg

数据输出：USB 联机电脑，专用 Windows 分析软件

拓展功能：支持2~3 层多层镀层拆分、合金镀层厚度 + 成分比例同步检测；自动生成均值、极差、标准差、SPC 管控图、直方图数据报表

核心测量原理

采用微焦点 X 射线荧光光谱法，顶部垂直 X 射线照射样品，探测器捕捉镀层元素激发荧光信号，精准解析镀层材质、分层结构、膜层厚度；无需破坏工件，可直接检测微小焊点、引脚、盲孔镀层，搭配自动对焦 CCD 彩色摄像，可视化定位测量点位，杜绝测偏误判。

特征

测量单元监控屏幕以可视化的方式显示被测物体的镀层附着力分布。

由于采用了 Windows® 软件，报表创建功能得到了增强。

注意：使用本产品前，您必须通知当地的劳动标准监察局。

规格

X射线源

油浸式微型微焦点X射线管

靶材：钨

管电压：50kV / 管电流：可变

辐照法

顶部垂直照明方法

探测器

比例计数器

可测量范围

原子序数 22-24：0.02 至约 20 µm；

原子序数 25-40：0.02 至约 30 µm；

原子序数 41-51：0.02 至约 70 µm；

原子序数 52-83：0.01 至约 10 µm

样本观测

CCD彩色相机（自动对焦）

桌子尺寸

200 x 200

被测物体的最大高度

90毫米

主机尺寸

740（宽）x 530（深）x 660（高）